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显微熔点仪--上海仪电物光

型号:SGW®X-4A

产品时间:2024-04-30

简要描述:

显微熔点仪--上海仪电物光
范围:室温~320℃;
最小读数单位:0.1℃;
重复性:±1℃(<200℃);±2℃(≥200℃);
单目显微镜;光学放大倍数:40倍

详细介绍
SGW® X-4B/SGW® X-4A/SGW® X-4 显微熔点仪
显微熔点仪--上海仪电物光              产品简介:

测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、燃料、香料等晶体有机化合物之测定。仪器采用显微镜观察方法,既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

SGWR X-4A、SGWR X-4B带有防风罩,减少了环境对测试结果的影响。

测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、燃料、香料等晶体有机化合物之测定。仪器采用显微镜观察方法,既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

SGWR X-4A、SGWR X-4B带有防风罩,减少了环境对测试结果的影响。

显微熔点仪--上海仪电物光               技术参数:
仪器型号SGW® X-4BSGW® X-4ASGW® X-4
测量范围

室温~320℃

测量方法目视
测量模式毛细管法/热台法
最小示值

0.1℃

0.1℃1℃
示值误差≤200℃±1℃;>200℃±2℃
观察方式双目体视显微镜单目显微镜单目显微镜
放大镜倍数40×-100×变倍40×40×
电源220V±22V,50Hz±1Hz
仪器尺寸269×160×435mm215×140×395mm215×140×395mm
仪器净重4kg3.6kg3.5kg




 


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